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ResistorPrecision Workbench

v0.27.0 안내 · 설계 블록 실습

SAR · 128:64:32:16:8:4:2:1 + dummy CDAC

VTOP=VCM−VIN+VREF×trial/256 관계와 charge-retaining 실제 trial 파형을 대조합니다.

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학습 체크는 이 브라우저에만 저장합니다. 엔진의 PASS·실행·제조 판정과 관계없습니다.

시작 전에

따라 하기

  1. 설계 도구 → 통합 설계 → 회로 · 연결 탐색에서 카탈로그를 읽고 SAR ADC 8개 블록의 SAR · 128:64:32:16:8:4:2:1 + dummy CDAC (sar8_cdac)를 선택합니다. 새 프로젝트를 생성하거나 아래 예제 ZIP을 가져옵니다.

  2. 회로도에서 root ports와 하위 셀을 엽니다. 아래 기본값·외부 testbench 조건과 실제 연결을 확인합니다.

  3. 128:64:32:16:8:4:2:1과 dummy, 총 256 unit을 봅니다.

  4. 지원 해석을 선택하고 Simulate를 실행합니다. 결과의 축·단위·실제 run·revision을 읽습니다.

  5. VTOP=VCM−VIN+VREF×trial/256 관계와 charge-retaining 실제 trial 파형을 대조합니다.

  6. 한 파라미터만 바꿔 새 해석과 비교합니다. 편집 프로젝트·조건·파형·로그를 같은 revision으로 저장합니다.

포트·기본값·필요한 블록

회로 ID: sar8_cdac · 지원 해석: tran

포트연결 기준
VIN원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
VREF원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
VCM원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
SAMPLE원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
TOP원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B0원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B1원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B2원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B3원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B4원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B5원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B6원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B7원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
VPWR원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
VGND원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인

회로 생성 화면과 아래 기록의 실제 파라미터를 확인합니다.

직접 의존 셀

실제 회로의 모든 하위 셀

셀 이름포트직접 소자 수내부 block 참조
INVA, Y, VPWR, VGND2
SAR8_TGA, Y, EN, ENB, VPWR, VGND2
SAR8_BOTTOMVIN, VREF, BIT, SAMPLE, SAMPLEB, OUT, VPWR, VGND5INV, SAR8_TG
SAR8_UNITTOP, BOTTOM1

실제 실행 기록 · source와 조건별로

이 표는 사용자의 엔진 상태를 대신하지 않습니다. default·변경 실험·예전 물리 세대를 함께 보존하며 fail/unknown을 pass로 바꾸지 않습니다. 새 실습의 최신 결과는 앱에서 확인하세요.

sar8_cdac/default · source 9eb7adb9a008 · 실제 과거 실행

원본 기록 JSON · 프로젝트 9a93a2032e08488382fae00d8ad187dc

단계실행 상태기준 판정run ID
precompletedpassdb3b3334655649ed9381348154790f7a

pre · 원본 결과 설명

Actual charge-retaining SAR comparator decisions and RTL/gate replay completed.

결과 revision: 1 · 사용자 현재 프로젝트의 결과가 아닙니다.

측정 이름·단위 원문값
analysistran
x_units
x_labeltime
output_bits8
frames11
max_code_error0
ambiguous_decisions0
rtl_gate_replay_matchtrue
lsb_V0.0046875
conversion_s0.000018
effective_resolutionnot measured
원본 기준판정관측
RTL / synthesized gates / CMOS schematic reproduce every native comparator decision and trialpassnull
Comparator logic levels unambiguous at decision edgespassnull
Directed input codes within one LSBpassnull

확인할 결과와 한계

막혔을 때

원문과 재현 자료

지원 범위·자세한 절차 · 검증 당시 template 카탈로그 · 전체 하위 셀·연결 원본 JSON · 해당 generation 실제 실행 기록 · SAR 전체 계층·물리 예제

다음 실습

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