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ResistorPrecision Workbench

v0.27.0 안내 · 설계 블록 실습

SAR · 샘플링 + CDAC + 비교기 코어

2µs acquisition·2µs bit settling 기본 조건에서 8개 bit trial과 charge retention을 확인합니다. core DRC/LVS/PEX와 controller 미생성 mask를 구분합니다.

전체 실습 안내 다운로드

학습 체크는 이 브라우저에만 저장합니다. 엔진의 PASS·실행·제조 판정과 관계없습니다.

시작 전에

따라 하기

  1. 설계 도구 → 통합 설계 → 회로 · 연결 탐색에서 카탈로그를 읽고 SAR ADC 8개 블록의 SAR · 샘플링 + CDAC + 비교기 코어 (sar8_analog)를 선택합니다. 새 프로젝트를 생성하거나 아래 예제 ZIP을 가져옵니다.

  2. 회로도에서 root ports와 하위 셀을 엽니다. 아래 기본값·외부 testbench 조건과 실제 연결을 확인합니다.

  3. sampling·CDAC·comparator의 실제 masks와 top/bottom/control를 엽니다.

  4. 지원 해석을 선택하고 Simulate를 실행합니다. 결과의 축·단위·실제 run·revision을 읽습니다.

  5. 2µs acquisition·2µs bit settling 기본 조건에서 8개 bit trial과 charge retention을 확인합니다. core DRC/LVS/PEX와 controller 미생성 mask를 구분합니다.

  6. 한 파라미터만 바꿔 새 해석과 비교합니다. 편집 프로젝트·조건·파형·로그를 같은 revision으로 저장합니다.

포트·기본값·필요한 블록

회로 ID: sar8_analog · 지원 해석: tran

포트연결 기준
VIN원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
VREF원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
VCM원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
BIAS원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
SAMPLE원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
TOP원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
COMP원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B0원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B1원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B2원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B3원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B4원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B5원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B6원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
B7원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
VPWR원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
VGND원본 subckt/graph의 핀 순서·역할 확인
기본 파라미터 (단위는 이름에 포함)카탈로그 값
input_V0.6
reference_V1.2
acquisition_s0.000002
bit_period_s0.000002
sweep_codes0

실제 회로의 모든 하위 셀

이 회로는 하위 셀 없이 primitive로 구성됩니다.

실제 실행 기록 · source와 조건별로

이 표는 사용자의 엔진 상태를 대신하지 않습니다. default·변경 실험·예전 물리 세대를 함께 보존하며 fail/unknown을 pass로 바꾸지 않습니다. 새 실습의 최신 결과는 앱에서 확인하세요.

sar8_analog/default · source 9eb7adb9a008 · 실제 과거 실행

원본 기록 JSON · 프로젝트 db7c2cc30c384efebfc0c10023ce1929

실행 파라미터

이름값
input_V0.6
reference_V1.2
acquisition_s0.000002
bit_period_s0.000002
sweep_codes0
단계실행 상태기준 판정run ID
precompletedpass0e7e0f993ab44bf7896e16d060985b65
drccompletedpassc0b8367cc2f84d9c82faab1afcd7a6e9
lvscompletedpasse80cc77e59174de3bd01c287d71d2133
pexcompletedpasse18205dfa8ad4a31bc11e0f12601b74a
postcompletedpass73d7afa4ec714778970b31f0d3bbfe2e

pre · 원본 결과 설명

Actual charge-retaining SAR comparator decisions and RTL/gate replay completed.

결과 revision: 1 · 사용자 현재 프로젝트의 결과가 아닙니다.

측정 이름·단위 원문값
analysistran
x_units
x_labeltime
output_bits8
frames11
max_code_error0
ambiguous_decisions0
rtl_gate_replay_matchtrue
lsb_V0.0046875
conversion_s0.000018
effective_resolutionnot measured
원본 기준판정관측
RTL / synthesized gates / CMOS schematic reproduce every native comparator decision and trialpassnull
Comparator logic levels unambiguous at decision edgespassnull
Directed input codes within one LSBpassnull

drc · 원본 결과 설명

Magic drc(full): 0 native violation rectangles. Selected deck; no signoff.

결과 revision: 1 · 사용자 현재 프로젝트의 결과가 아닙니다.

lvs · 원본 결과 설명

Actual Netgen comparison: circuits match uniquely.

결과 revision: 1 · 사용자 현재 프로젝트의 결과가 아닙니다.

pex · 원본 결과 설명

Actual Magic RC extraction: 20872 resistors, 8068 capacitors. Zero counts reflect native thresholds, not inserted elements.

결과 revision: 1 · 사용자 현재 프로젝트의 결과가 아닙니다.

post · 원본 결과 설명

Actual charge-retaining SAR comparator decisions and RTL/gate replay completed.

결과 revision: 1 · 사용자 현재 프로젝트의 결과가 아닙니다.

측정 이름·단위 원문값
analysistran
x_units
x_labeltime
output_bits8
frames11
max_code_error1
ambiguous_decisions0
rtl_gate_replay_matchtrue
lsb_V0.0046875
conversion_s0.000018
effective_resolutionnot measured
원본 기준판정관측
RTL / synthesized gates / CMOS schematic reproduce every native comparator decision and trialpassnull
Comparator logic levels unambiguous at decision edgespassnull
Directed input codes within one LSBpassnull
sar8_analog · source 67254722d7c3 · 실제 과거 실행

원본 기록 JSON · 프로젝트 3a7822bb68c94dc6ad5f64af22dc4b55

단계실행 상태기준 판정run ID
drccompletedpass33eb0a1402ce402594402b87ad5d4936
lvscompletedpass90a154b5c5e34f55b605149020a1492a
pexcompletedpassda7ecb99687342aa8060b870884e91d8
precompletedpass754be8f8291a49fbb1c896f94c9b4909
postcompletedpass3668c453c28846e69f9f067c53db0f55

drc · 원본 결과 설명

Magic drc(full): 0 native violation rectangles. Selected deck; no signoff.

결과 revision: 1 · 사용자 현재 프로젝트의 결과가 아닙니다.

lvs · 원본 결과 설명

Actual Netgen comparison: circuits match uniquely.

결과 revision: 1 · 사용자 현재 프로젝트의 결과가 아닙니다.

pex · 원본 결과 설명

Actual Magic RC extraction: 20869 resistors, 8066 capacitors. Zero counts reflect native thresholds, not inserted elements.

결과 revision: 1 · 사용자 현재 프로젝트의 결과가 아닙니다.

pre · 원본 결과 설명

Actual charge-retaining SAR comparator decisions and RTL/gate replay completed.

결과 revision: 1 · 사용자 현재 프로젝트의 결과가 아닙니다.

측정 이름·단위 원문값
analysistran
x_units
x_labeltime
output_bits8
frames11
max_code_error0
ambiguous_decisions0
rtl_gate_replay_matchtrue
lsb_V0.0046875
conversion_s0.000018
effective_resolutionnot measured
원본 기준판정관측
RTL / synthesized gates / CMOS schematic reproduce every native comparator decision and trialpassnull
Comparator logic levels unambiguous at decision edgespassnull
Directed input codes within one LSBpassnull

post · 원본 결과 설명

Actual charge-retaining SAR comparator decisions and RTL/gate replay completed.

결과 revision: 1 · 사용자 현재 프로젝트의 결과가 아닙니다.

측정 이름·단위 원문값
analysistran
x_units
x_labeltime
output_bits8
frames11
max_code_error1
ambiguous_decisions0
rtl_gate_replay_matchtrue
lsb_V0.0046875
conversion_s0.000018
effective_resolutionnot measured
원본 기준판정관측
RTL / synthesized gates / CMOS schematic reproduce every native comparator decision and trialpassnull
Comparator logic levels unambiguous at decision edgespassnull
Directed input codes within one LSBpassnull

기록된 실제 경계: 873.72 × 289.81 µm · fits=true

확인할 결과와 한계

막혔을 때

원문과 재현 자료

지원 범위·자세한 절차 · 검증 당시 template 카탈로그 · 전체 하위 셀·연결 원본 JSON · 해당 generation 실제 실행 기록 · SAR 전체 계층·물리 예제

다음 실습

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